簡要描述:日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z? 帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。? 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業(yè)器械 的 OEM(原廠委制) 產(chǎn) 品, 如 那 些 利 用YAG(近紅外、可見、近紫外或紫外) 激光 *對半導體晶片進行檢測和修補的設(shè)備。* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。
產(chǎn)品分類
Product Category品牌 | MITUTOYO/日本三豐 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 |
日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z
日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z
• 帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。
• 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業(yè)器械 的 OEM(原廠委制) 產(chǎn) 品, 如 那 些 利 用YAG(近紅外、可見、近紫外或紫外) 激光 *對半導體晶片進行檢測和修補的設(shè)備。* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。
• 應(yīng)用 :切割、修整、校正、給半導體電路做標記 / 薄膜 (絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復 (校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
• 可用于紅外光學系統(tǒng) *。應(yīng)用 :晶體硅的內(nèi)部觀察 ;紅外光譜特征分析。* 需要紅外光源和紅外攝像機。
• 支持 BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比 (DIC) 的型號 (產(chǎn)品) 可用。
• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。
• 內(nèi)傾轉(zhuǎn)塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。
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